SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀
| 特點(diǎn): 測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。 主要技術(shù)參數(shù): 熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃ 測(cè)量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí)) ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)) 溫度顯示zui小值:0.1℃ 熔點(diǎn)觀察方式: 雙目顯微鏡 光學(xué)放大倍數(shù) 40-100X |
訂購:
上海屹利科學(xué)儀器有限公司 www.elab17.com
上海屹利科學(xué)儀器有限公司(杭州辦)
工作: 2670566745